Umumnya, ketika arus uji lebih besar dari 15mA, bentuk gelombang uji dapat diulang dan dapat ditumpuk, dan satu bentuk gelombang memiliki satu transmisi, tiga pantulan, dan amplitudo pulsa secara bertahap melemah, jarak yang diukur adalah jarak dari titik cacat ke ujung uji kabel; Jika tidak, itu adalah jarak dari titik cacat ke ujung pengujian kabel yang berlawanan. Berikut ini adalah uraian singkat tentang metode pengujian berdasarkan resistansi titik cacat:
(1) Ketika resistansi pada titik gangguan sama dengan nilai yang tidak terukur, mudah untuk menemukan kesalahan rangkaian terbuka dengan menggunakan metode pulsa tegangan tinggi. Secara umum, kesalahan sirkuit terbuka otentik tidak jarang. Umumnya, gangguan hubung terbuka adalah koeksistensi resistansi tinggi ke ground atau fase ke fase dan resistansi rendah ke ground atau fase ke fase.
(2) Ketika resistansi titik cacat lebih besar dari Wen rendah dan kurang dari 100 kiloohm, mudah untuk menemukan cacat resistansi rendah dengan mengukur dengan metode pulsa tegangan tinggi.
(3) Cacat flashover dapat diukur dengan metode flash langsung. Cacat ini umumnya ada di luar konektor. Resistansi titik cacat lebih besar dari 100 kiloohm, tetapi nilainya sangat berubah, dan setiap pengukuran tidak pasti
(4) Cacat flashover biasanya terjadi pada uji ketahanan tegangan preventif, dan sebagian besar terjadi pada terminal kabel dan ujung tengah dan langsung.
(5) Untuk cacat resistansi tinggi, metode impuls dapat digunakan untuk mengukur resistansi titik cacat, yang lebih besar dari 100 kiloohm, dan nilainya dapat ditentukan. Perangkat ini dapat mengontrol kesalahan pengukuran dalam puluhan sentimeter. Mereka dapat langsung menemukan titik cacat dan menghentikan pemrosesan, yang meningkatkan efisiensi deteksi cacat. Misalnya, teknologi pengujian saat ini untuk menerima sinyal pada titik cacat dari sinyal frekuensi suara ke kabel, dan penentuan posisi titik cacat yang akurat menggunakan CD-12-22 penguji cacat kabel.
Saat ini, metode pengujian yang populer adalah metode uji kilat, yang meliputi flash impuls dan flash langsung. Metode yang umum digunakan adalah metode flash impuls. Untuk meningkatkan tingkat teknis uji cacat kabel, metode yang berbeda harus diadopsi untuk sifat cacat yang berbeda, dan teknologi serta peralatan baru harus diperkenalkan dari waktu ke waktu. Pada saat yang sama, pengalaman harus dieksplorasi pada peralatan baru untuk mengembangkan fungsi baru.
